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프론티어 세미콘덕터사(FSM)는 새로운 막질 분석용으로써 라만분광해석기술을 활용한 Si, SiGe및 SOI내의 변형측정장치를 포함하여 반도체와 MEMS등에 걸쳐 광범위한 첨단측정장비를 제공하는 동시에 박막스트레스(응력), 웨이퍼 휨, 국부 스트레스나 열 탈착 분광학(TDS), 밀락정도량 시험, 박막웨이퍼 기판두께 등의 측정용도에 대한 여러 분의 문제 해결을 위한 역할을 다하고 있습니다.

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프론티어 뉴스

FSM은 기술적 가치와 솔루션을 첨단의 장비를 통해 고객에게 제공합니다.

태양전지에서 비접촉 저항측정

FSM RTH 표면 프로파일러

VideoMic과 InnerVision

Auto IC de-caper

Resistivity with heat up to 500C