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フロンティアセミコンダクターへようこそ
フロンティアセミコンダクター社(FSM)は、新しい膜解析用としてラマン分光解析技術を活用したSi、SiGe及びSOI内の歪み測定装置を含む、半導体やMEMSなどの分野における幅広い先端測定装置をご提供すると共に、薄膜ストレス(応力)、ウェハ反り、ローカルストレスや熱出ガス解析(TDS)、密着度定量試験、極薄ウェハ基板厚等の測定用途において、皆様の問題解決にお役に立っております。

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FSM proudly presents our latest offering:

Non contact resistivity on solar cell

FSM RTH surface roughness profiler

VideoMic and InnerVision

Auto IC de-caper

Resistivity with heat up to 500C